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專利資訊
晶圓老化測試模式電路
海力士半導體股份有限公司
申請案號
091132405
公告號
200408026
申請日期
2002-11-01
申請人
海力士半導體股份有限公司
發明人
趙龍德
資料更新日
2026-04-04
IPC 分類
H01L21/66
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