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專利資訊
試片之光學量測裝置
奎德股份有限公司
申請案號
091133823
公告號
200303420
申請日期
2002-11-20
申請人
奎德股份有限公司
發明人
亥寇 魯道夫
資料更新日
2026-04-04
IPC 分類
G01N21/55
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