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專利資訊
矽液晶微型顯示器之液晶厚度量測方法
南茂科技股份有限公司
申請案號
091136225
公告號
200409906
申請日期
2002-12-11
申請人
南茂科技股份有限公司
發明人
呂良田
資料更新日
2026-04-04
IPC 分類
G01B17/00
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