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專利資訊
試片之檢驗區反應值偵測方法
力捷電腦股份有限公司
申請案號
091136734
公告號
200411176
申請日期
2002-12-19
申請人
力捷電腦股份有限公司
發明人
王國任
資料更新日
2026-04-04
IPC 分類
G01N33/48
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