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專利資訊
積體電路之不良品的檢測方法
台達電子工業股份有限公司
申請案號
091137004
公告號
200411795
申請日期
2002-12-20
申請人
台達電子工業股份有限公司
發明人
吳建華
資料更新日
2026-04-04
IPC 分類
H01L21/66
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