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專利資訊
試片之檢驗區顯色反應判斷方法
宇系科技有限公司
申請案號
091137722
公告號
200411177
申請日期
2002-12-27
申請人
宇系科技有限公司
發明人
王國任
資料更新日
2026-04-04
IPC 分類
G01N33/483
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