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專利資訊
膜厚測定方法及膜厚測定裝置
華普索魯瓊股份有限公司
申請案號
092100763
公告號
200302342
申請日期
2003-01-15
申請人
華普索魯瓊股份有限公司
發明人
山田惠三
資料更新日
2026-04-04
IPC 分類
G01B7/06
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