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專利資訊
可測試被動元件電性之晶片承載件及其測試方法
矽品精密工業股份有限公司
申請案號
092107226
公告號
200420202
申請日期
2003-03-31
申請人
矽品精密工業股份有限公司
發明人
陳建德
資料更新日
2026-04-04
IPC 分類
H05K1/00
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