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專利資訊
試片檢驗區檢測結果自動偵測方法
宇系科技有限公司
申請案號
092107795
公告號
200420881
申請日期
2003-04-04
申請人
宇系科技有限公司
發明人
曾文昭
資料更新日
2026-04-04
IPC 分類
G01N33/48
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