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專利資訊
防靜電破壞之IC元件測試系統
聯華電子股份有限公司
申請案號
092108280
公告號
200421513
申請日期
2003-04-10
申請人
聯華電子股份有限公司
發明人
王健宏
資料更新日
2026-04-04
IPC 分類
H01L21/66
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