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基準電壓產生裝置及具備其之半導體積體電路、半導體積體電路之檢查及檢查方法

夏普股份有限公司

申請案號
092109734
公告號
200402539
申請日期
2003-04-25
申請人
夏普股份有限公司
發明人
坂口 英明
資料更新日
2026-04-04

IPC 分類

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基準電壓產生裝置及具備其之半導體積體電路、半導體積體電路之檢查及檢查方法 - 專利資訊 | NowTo 智財通