IP
NowTo 智財通
EN
首頁
/
專利資訊
光學折射率之高精密量測方法
遠東技術學院
申請案號
092114499
公告號
200426357
申請日期
2003-05-28
申請人
遠東技術學院
發明人
鐘明吉
資料更新日
2026-04-04
IPC 分類
G01N21/41
查看申請人公司資訊
本站使用 Cookie 進行流量分析,以提供更好的使用體驗。
拒絕
接受
×
光學折射率之高精密量測方法 - 專利資訊 | NowTo 智財通