IP

回復介電層之表面特性的方法及凸塊重繞線製程

台灣積體電路製造股份有限公司

申請案號
092114690
公告號
200426923
申請日期
2003-05-30
申請人
台灣積體電路製造股份有限公司
發明人
游秀美
資料更新日
2026-04-04

IPC 分類

本站使用 Cookie 進行流量分析,以提供更好的使用體驗。

回復介電層之表面特性的方法及凸塊重繞線製程 - 專利資訊 | NowTo 智財通