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專利資訊
萬用型半導體檢測機之測試機構
臺北歆科科技有限公司
申請案號
092114866
公告號
200428008
申請日期
2003-06-02
申請人
臺北歆科科技有限公司
發明人
黃德崑
資料更新日
2026-04-04
IPC 分類
G01R31/317
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