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專利資訊
半導體元件測試時間之自動計算方法
南茂科技股份有限公司
申請案號
092117493
公告號
200501297
申請日期
2003-06-26
申請人
南茂科技股份有限公司
發明人
曾元平
資料更新日
2026-04-04
IPC 分類
H01L21/66
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