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專利資訊
多核心晶片用之分層測試方法
昇陽電腦股份有限公司
申請案號
092118226
公告號
200405166
申請日期
2003-07-03
申請人
昇陽電腦股份有限公司
發明人
雷傑許Y 潘德卡
資料更新日
2026-04-04
IPC 分類
G06F13/00
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