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專利資訊
微影檢測圖樣及其方法
台灣積體電路製造股份有限公司
申請案號
092119179
公告號
200503137
申請日期
2003-07-14
申請人
台灣積體電路製造股份有限公司
發明人
郭雪鈴
資料更新日
2026-04-04
IPC 分類
H01L21/66
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