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專利資訊
探針測試卡及半導體晶片測試方法,電容器及其製造方法
富士通股份有限公司
申請案號
092120048
公告號
200405500
申請日期
2003-07-23
申請人
富士通股份有限公司
發明人
山岸康男
資料更新日
2026-04-04
IPC 分類
H01L21/66
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