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專利資訊
矽晶圓之缺陷檢測方法
SUMCO TECHXIV股份有限公司
申請案號
092120617
公告號
200415736
申請日期
2003-07-29
申請人
SUMCO TECHXIV股份有限公司
發明人
石井明洋
資料更新日
2026-04-04
IPC 分類
H01L21/66
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