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專利資訊
量測物體位移至次奈米級解析度之設備與方法
國立中山大學
申請案號
092121010
公告號
200504332
申請日期
2003-07-31
申請人
國立中山大學
發明人
錢志回
資料更新日
2026-04-04
IPC 分類
G01B9/021
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