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專利資訊
離子束入射角偏移之檢測設備及方法
茂德科技股份有限公司
申請案號
092122062
公告號
200506321
申請日期
2003-08-12
申請人
茂德科技股份有限公司
發明人
許恆凱
資料更新日
2026-04-04
IPC 分類
G01B7/30
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