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專利資訊
量測薄膜應變之方法及結構
台達電子股份有限公司
申請案號
092122066
公告號
200506329
申請日期
2003-08-12
申請人
台達電子股份有限公司
發明人
蔡欣昌
資料更新日
2026-04-04
IPC 分類
G01L1/00
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