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接觸設備,及包含使用該接觸設備於微波裝置測試之PCB測試,及使用該PCB測試的製造方法

LEENO工業有限公司

申請案號
092122547
公告號
200413732
申請日期
2003-08-15
申請人
LEENO工業有限公司
發明人
李彩允
資料更新日
2026-04-04

IPC 分類

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接觸設備,及包含使用該接觸設備於微波裝置測試之PCB測試,及使用該PCB測試的製造方法 - 專利資訊 | NowTo 智財通