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垂直電晶體之閘極氧化層厚度的量測方式及量測裝置

南亞科技股份有限公司

申請案號
092124186
公告號
200511459
申請日期
2003-09-02
申請人
南亞科技股份有限公司
發明人
林裕章
資料更新日
2026-04-04

IPC 分類

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