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減少在晶圓級的晶片測試之方案

恩智浦股份有限公司

申請案號
092125045
公告號
200414394
申請日期
2003-09-10
申請人
恩智浦股份有限公司
發明人
康那利斯 歐尼 克寇
資料更新日
2026-04-04

IPC 分類

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減少在晶圓級的晶片測試之方案 - 專利資訊 | NowTo 智財通