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專利資訊
矽晶錠的點缺陷分佈之測定方法
三菱住友矽晶股份有限公司
申請案號
092128828
公告號
200412421
申請日期
2003-10-17
申請人
三菱住友矽晶股份有限公司
發明人
栗田一成
資料更新日
2026-04-04
IPC 分類
G01B7/00
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