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檢查方法,解析片的製作方法,解析方法,解析裝置,矽絕緣層(SOI)晶圓的製造方法,及矽絕緣層(SOI)晶圓
三菱住友矽晶股份有限公司
申請案號
092129332
公告號
200415738
申請日期
2003-10-22
申請人
三菱住友矽晶股份有限公司
發明人
大久保晶
資料更新日
2026-04-04
IPC 分類
H01L21/66
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