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使用導引波之非破壞檢查裝置及非破壞檢查方法

日立製作所股份有限公司

申請案號
092130531
公告號
200500605
申請日期
2003-10-31
申請人
日立製作所股份有限公司
發明人
永島良昭
資料更新日
2026-04-04

IPC 分類

G01N29/00
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