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專利資訊
積體電路內部電阻量測方法及電路
華邦電子股份有限公司
申請案號
092131035
公告號
200516261
申請日期
2003-11-06
申請人
華邦電子股份有限公司
發明人
王傑彥
資料更新日
2026-04-04
IPC 分類
G01R27/00
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