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射頻裝置用之檢驗具，及組入於該檢驗具之接觸探針

友華股份有限公司

申請案號
092132378
公告號
200419158
申請日期
2003-11-19
申請人
友華股份有限公司
發明人
佐藤溫
資料更新日
2026-04-04

IPC 分類

G01R1/06
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射頻裝置用之檢驗具，及組入於該檢驗具之接觸探針 - 專利資訊 | NowTo 智財通