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專利資訊
具有模具變形檢測器之奈米壓印系統與監測方法
國立清華大學
申請案號
092133432
公告號
200517666
申請日期
2003-11-27
申請人
國立清華大學
發明人
賀陳弘
資料更新日
2026-04-04
IPC 分類
G01R29/22
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