IP
NowTo 智財通
EN
首頁
/
專利資訊
可對被動元件作電性測試之晶片承載件及其測試方法
矽品精密工業股份有限公司
申請案號
092134664
公告號
200520131
申請日期
2003-12-09
申請人
矽品精密工業股份有限公司
發明人
陳炎諄
資料更新日
2026-04-04
IPC 分類
H01L21/66
查看申請人公司資訊
本站使用 Cookie 進行流量分析,以提供更好的使用體驗。
拒絕
接受
×
可對被動元件作電性測試之晶片承載件及其測試方法 - 專利資訊 | NowTo 智財通