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不具微波暗室之縮距反射面天線場型量測裝置

寰波科技股份有限公司

申請案號
092135670
公告號
200521449
申請日期
2003-12-16
申請人
寰波科技股份有限公司
發明人
張道治
資料更新日
2026-04-04

IPC 分類

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