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專利資訊
缺陷影像分類方法及系統
台灣積體電路製造股份有限公司
申請案號
092135707
公告號
200411324
申請日期
2003-12-17
申請人
台灣積體電路製造股份有限公司
發明人
洪彰成
資料更新日
2026-04-04
IPC 分類
G03F3/00
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