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專利資訊
利用一測試結構製造半導體元件之方法
皇家飛利浦電子股份有限公司
申請案號
092135813
公告號
200501302
申請日期
2003-12-17
申請人
皇家飛利浦電子股份有限公司
發明人
保羅 里昂 希西珥 賽門
資料更新日
2026-04-04
IPC 分類
H01L21/66
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