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專利資訊
具有方位量測之測距儀及其量測方法
亞洲光學股份有限公司
申請案號
092136130
公告號
200521408
申請日期
2003-12-19
申請人
亞洲光學股份有限公司
發明人
黃瑞峰
資料更新日
2026-04-04
IPC 分類
G01C3/00
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