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專利資訊
LSI檢測方法以及缺陷檢測資料分析裝置
聯華電子股份有限公司
申請案號
092136663
公告號
200421518
申請日期
2003-12-24
申請人
聯華電子股份有限公司
發明人
端庸兒
資料更新日
2026-04-04
IPC 分類
H01L21/66
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