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專利資訊
半導體裝置及使用此半導體裝置的放射線檢測器
濱松赫德尼古斯股份有限公司
申請案號
093104572
公告號
200428545
申請日期
2004-02-24
申請人
濱松赫德尼古斯股份有限公司
發明人
柴山勝己
資料更新日
2026-04-04
IPC 分類
H01L21/60
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