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半導體裝置及使用此半導體裝置的放射線檢測器

濱松赫德尼古斯股份有限公司

申請案號
093104573
公告號
200428546
申請日期
2004-02-24
申請人
濱松赫德尼古斯股份有限公司
發明人
柴山勝己
資料更新日
2026-04-04

IPC 分類

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