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專利資訊
顯微鏡及試料觀察方法
濱松赫德尼古斯股份有限公司
申請案號
093107481
公告號
200504383
申請日期
2004-03-19
申請人
濱松赫德尼古斯股份有限公司
發明人
寺田浩敏
資料更新日
2026-04-04
IPC 分類
G02B21/00
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