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專利資訊
雙視角之三維形貌影像線性掃描檢測裝置
晶彩科技股份有限公司
申請案號
093107700
公告號
200532187
申請日期
2004-03-23
申請人
晶彩科技股份有限公司
發明人
錢家錡
資料更新日
2026-04-04
IPC 分類
G01N21/88
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