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IPC G01B15/00 專利列表

共 2 筆結果

試料觀察裝置、邊緣位置計算裝置以及程式

愛德萬測試股份有限公司

案號 0931032712004-02-12IPC G01B15/00

測長用標準構件及其製作方法、以及使用其之電子束測長裝置

日立全球先端科技股份有限公司

案號 0921186102003-07-08IPC G01B15/00

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