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IPC G01C3/08 專利列表

共 4 筆結果

雷射測距裝置的測試方法

亞洲光學股份有限公司

案號 0921294832003-10-23IPC G01C3/08

光學測距裝置

亞洲光學股份有限公司

案號 0921249852003-09-10IPC G01C3/08

用於測距之脈波反射振盪裝置及其方法

李翠瑚

案號 0921224412003-08-15IPC G01C3/08

提升雷射測距精確度之方法及裝置

財團法人工業技術研究院

案號 0921185532003-07-08IPC G01C3/08

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