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IPC G01M11/02 專利列表

共 3 筆結果

光學量測裝置

明基電通股份有限公司

案號 0921004882003-01-10IPC G01M11/02

成像光學系統之評估方法、成像光學系統之調整方法、曝光裝置、以及曝光方法

尼康股份有限公司

案號 0911372622002-12-25IPC G01M11/02

分波多工器測試系統

鴻海精密工業股份有限公司

案號 0911340132002-11-22IPC G01M11/02

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