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IPC G01N23/00 專利列表

共 3 筆結果

氟化物中之不純物（色中心）分析方法及單結晶成長用材料之製造方法

史鐵勒傑米華股份有限公司

案號 0931053552004-03-02IPC G01N23/00

利用從試料放出的電子進行試料的檢查所使用的照像投影型電子束裝置、試料評價方法以及使用該試料評價方法的半導體裝置製造方法

荏原製作所股份有限公司

案號 0931017102004-01-27IPC G01N23/00

半導體用之掃瞄工具的校正方法以及用於校正掃瞄工具的標準校正片

旺宏電子股份有限公司

案號 0921219512003-08-11IPC G01N23/00

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