IPC G01N23/20 專利列表
共 7 筆結果
Ｘ射線繞射裝置
理學股份有限公司
案號 0931080812004-03-25IPC G01N23/20
測量微影裝置組件表面污染之方法及裝置
ＡＳＭＬ荷蘭公司
案號 0931044402004-02-23IPC G01N23/20
樣品檢視裝置及方法及產生微電子裝置之叢集工具及設備
以色列商布魯克科技有限公司
案號 0931034782004-02-12IPC G01N23/201
Ｘ光反射測量術之光束定心及角度校正
以色列商布魯克科技有限公司
案號 0921343992003-12-05IPC G01N23/20
量測硬體對通用數據庫之適應
東京威力科創美國股份有限公司
案號 0921214052003-08-05IPC G01N23/20
密度不均多層膜之解析方法及其裝置及系統
理學電機股份有限公司
案號 0921153502003-06-06IPC G01N23/20
Ｘ光形態測量系統
貝得科學儀器有限公司
案號 0911354502002-12-06IPC G01N23/201