IPC G01R1/073 專利列表
共 17 筆結果
探針，探針卡及其製作方法
飛而康公司
案號 0931070262004-03-17IPC G01R1/073
多功能探針卡
旺矽科技股份有限公司
案號 0931045152004-02-24IPC G01R1/073
探針頭，其裝配方法及探針卡
山一電機股份有限公司
案號 0931039682004-02-18IPC G01R1/073
用於測試微電子電路的系統之改良的多重連接裝置
普羅貝斯特公司
案號 0921175772003-06-27IPC G01R1/073
高性能探測系統
鋒法特股份有限公司
案號 0921124782003-05-07IPC G01R1/073
顯示面板檢查用承座及其調整機構
恩普樂股份有限公司
案號 0921123062003-05-06IPC G01R1/073
高導電奈米薄膜式探針卡之製造方法
財團法人工業技術研究院
案號 0921095632003-04-24IPC G01R1/073
導電接觸探針支承件（二）
日本發條股份有限公司
案號 0921089682003-04-16IPC G01R1/073
半導體晶圓之非侵入性電測量
固態量測股份有限公司
案號 0921079312003-04-07IPC G01R1/073
探針單元及其製造方法
山一電機股份有限公司
案號 0921060232003-03-19IPC G01R1/073
探針卡之品質判斷方法
台灣積體電路製造股份有限公司
案號 0921058342003-03-17IPC G01R1/073
載有電容器型探針及使用該探針之檢查治具
優可歐股份有限公司
案號 0921023732003-02-06IPC G01R1/073
晶圓針測測試裝置及對接晶圓針測測試機械探針頭與針測卡之方法
三星電子股份有限公司
案號 0921001922003-01-06IPC G01R1/073
探針裝置
東京威力科創股份有限公司
案號 0911361642002-12-13IPC G01R1/073
積體化複合奈米探針卡及其製造方法
財團法人工業技術研究院
案號 0911347132002-11-29IPC G01R1/073
接點構造及其製造方法，及使用接點構造之探針接點組件
艾德文斯特公司
案號 0911346362002-11-28IPC G01R1/073
顯示面板檢查用探針接觸裝置
東京陰極研究所股份有限公司
案號 0911324672002-11-04IPC G01R1/073