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IPC G01R27/08 專利列表

共 2 筆結果

用以測量低阻抗之系統及方法

惠普研發公司

案號 0921140312003-05-23IPC G01R27/08

用於測量低阻抗之系統與方法

慧與發展有限責任合夥企業

案號 0921135832003-05-20IPC G01R27/08

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