IPC G01R31/30 專利列表
共 19 筆結果
使用井偏壓修正的積體電路測試方法
萬國商業機器公司
案號 0931043472004-02-20IPC G01R31/303
利用獨立地可控制電壓島之測試
萬國商業機器公司
案號 0931043482004-02-20IPC G01R31/30
用於檢測晶粒上電壓變化之方法、裝置、積體電路、積體電路晶片與電腦系統
英特爾公司
案號 0931033162004-02-12IPC G01R31/302
測試配置於矩陣陣列中像素之方法及裝置
島津製作所股份有限公司
案號 0931021852004-01-30IPC G01R31/305
雷射光束檢查裝置
濱松赫德尼古斯股份有限公司
案號 0931013632004-01-19IPC G01R31/302
球柵陣列基板檢測裝置及其構成方法
技嘉科技股份有限公司
案號 0921361202003-12-19IPC G01R31/306
監控積體電路之方法與裝置
聯發科技股份有限公司
案號 0921312962003-11-07IPC G01R31/303
類神經網路光學量測系統及其訓練量測方法
元利盛精密機械股份有限公司
案號 0921300902003-10-29IPC G01R31/308
測試基板之裝置及方法
島津製作所股份有限公司
案號 0921270592003-09-30IPC G01R31/302
靜態電流測試方法、靜態電流測試系統及靜態電流測試裝置
恩智浦股份有限公司
案號 0921252222003-09-12IPC G01R31/30
電力偵測器及其偵測方法
華邦電子股份有限公司
案號 0921185592003-07-08IPC G01R31/303
光碟晶片測試板及其中之相位移位射頻訊號產生電路
威盛電子股份有限公司
案號 0921182962003-07-04IPC G01R31/303
電子元件之燒機測試系統
艾爾測試系統
案號 0921173652003-06-26IPC G01R31/30
光碟晶片測試板及其中之射頻訊號產生電路
威盛電子股份有限公司
案號 0921139432003-05-23IPC G01R31/30
被動顯示器的燒機方法
友達光電股份有限公司
案號 0921050012003-03-07IPC G01R31/30
電容器之剩餘壽命預測方法，溫度檢測構造及電子機器
歐姆龍股份有限公司
案號 0921031762003-02-17IPC G01R31/30
積體電路之檢測方法
盛群半導體股份有限公司
案號 0921010562003-01-17IPC G01R31/303
高速驅動級之電流偵測電路
圓創科技股份有限公司
案號 0921003732003-01-08IPC G01R31/30
藉由使用嵌入式記憶體陣列的分部以達到較高產品產率之方法及裝置
惠普公司
案號 0911358562002-12-11IPC G01R31/303