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IPC G01R31/302 專利列表

共 3 筆結果

用於檢測晶粒上電壓變化之方法、裝置、積體電路、積體電路晶片與電腦系統

英特爾公司

案號 0931033162004-02-12IPC G01R31/302

雷射光束檢查裝置

濱松赫德尼古斯股份有限公司

案號 0931013632004-01-19IPC G01R31/302

測試基板之裝置及方法

島津製作所股份有限公司

案號 0921270592003-09-30IPC G01R31/302

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